科技成果名称多激发波长同步扫频寿命测量方法
2014-01-24 发布     已有364人浏览
(国内科技成果)
科技成果编号:GR00069 过期时间:1970-01-01
合作方式:技术,成果转让 发明情况:
专利情况:无专利 资金需求:100万元以下
技术类别:光谱成像技术
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细胞内信号路径实时研究由于我们无法在四个或四个以上荧光标签中进行荧光共振能量转移成像。虽然研究一般使用二标签荧光共振能量转移成像,在两种以上荧光之前进行成像荧光共振能量转移仍然是非常困难的。由于部分荧光共振能量转移复合物共用同样的标签,仅仅通过光谱属性的密度分析进行信号区分是不可能的。荧光共振能量转移寿命分析,然而,可以让我们区分荧光共振能量转移复合物,即使它们具有相同的标签。寿命成像可以区分配对(淬火)供体荧光和未配对(未淬火)供体荧光,检测绝对荧光共振能量转移效率,完全量化荧光共振能量转移过程。由于同时收集激励数据和荧光共振能量转移寿命数据的难度较大,高光谱寿命成像系统需要比较长的图像获取时间。这使得它们仅能用于监测短跨度化学过程,例如细胞信号等。可监测来自同时多波长激励寿命数据的快速荧光共振能量转移寿命成像系统被证明是活细胞过程中用于监测复杂荧光共振能量转移网络的新仪器。该系统可用来帮助理解基因紊乱、癌症等的发病机制。

优点:

相对较短的获取时间

针对五种荧光以上的同步荧光共振能量转移寿命测量

针对不同荧光团组合的成本较低、质量较高的配置

应用:

细胞内信号路径动态成像。

研究基因紊乱、癌症等蛋白质交互作用生物医学成像。

发布者

中国高科技产业化研究会产学研合作协调部

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